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產(chǎn)品型號(hào)：TCPA300/TCPA400/TCP312A廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2023-12-31訪 問 量：1128產(chǎn)品分類CLASSIFICATION
詳細(xì)介紹
| 品牌 | TeKtronix/美國(guó)泰克 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣 |
一、泰克電流探頭TCP305A放大器概述
滿足當(dāng)今的 AC/DC 電流測(cè)量應(yīng)用，TCPA300 放大器在與 TCP312A、TCP305A 或 TCP303 探頭一起使用時(shí)，提供了一系列電流測(cè)量功能，彌補(bǔ)了小電流測(cè)量產(chǎn)品與超高電流測(cè)量產(chǎn)品之間的空白。這三個(gè)探頭提供了30 A、50 A 和 150 A 連續(xù)直流電流的電流測(cè)量功能。對(duì)更高的電流電平，帶有 TCP404XL 電流探頭的 TCPA400 放大器可以測(cè)量 500A 和 750A 的連續(xù)直流電流，降額與占空比有關(guān)。帶 TCPA300 的 TCP312A 實(shí)現(xiàn)了更高頻率的性能，提供了≥100 MHz 的帶寬及30A 的直流電流。
二、泰克電流探頭TCP305A放大器參數(shù)
| 帶TCPA300的TCP312A | 帶TCPA300的TCP305A | 帶TCPA300的TCP303 | 帶TCPA400的TCP404XL | |
| 帶寬 | DC-100MHz | DC-50MHz | DC-15MHz | DC-2MHz |
| 上升時(shí)間 | ≤3.5ns | ≤7ns | ≤23ns | ≤175ns |
| 直流準(zhǔn)確度 | 讀數(shù)的±3% | 讀數(shù)的±3% | 讀數(shù)的±3% | 讀數(shù)的±3% |
| 精度（典型值） | 直流：讀數(shù)的±1% DC至60Hz，≤5A：±1% 60Hz-5kHz≤5A：±1.5% DC-5kHz，＞5A：±1.5% | 直流：讀數(shù)的±1% DC至60Hz，≤5A：±1% 60Hz-5kHz≤5A：±1.5% DC-5kHz，＞5A：±1.5% | 直流：讀數(shù)的±1% | 直流：讀數(shù)的±1% |
小測(cè)量電流（直流精度為±3%） 示波器設(shè)置為1mV/格，帶寬限制為20MHz | 1mA | 5mA | 5mA | 1A |
| 典型安培-秒乘積（基于放大器范圍設(shè)置） | 50A*μs-1A/V 500A*μs-10A/V | 500A*μs-5A/V 不適用-10A/V | 3000A*μs-5A/V 1500A*μs-50A/V | 不適用-1A/V |
| 線電壓 | ||||
| 裸線 | 150V CATII | 150V CATII | 600V CATI和II | 600V CATI和II |
| 絕緣線 | 300V CATII | 300V CATII | 300V CATIII | 300V CATIII |
| 典型交流耦合低頻帶寬（低通-3dB點(diǎn)） | ＜7Hz | ＜7Hz | ＜7Hz | ＜7Hz |
| 顯示的典型RMS噪聲 | ≤250 μARMS | ≤1.25 mARMS | ≤2.5mARMS | ≤250 mARMS |
| 信號(hào)延遲（到輸出BNC） | 17ns | 19ns | 40ns | 80ns |
| 輸入阻抗 | 1 MHz 時(shí)為 0.11 ? 10 MHz 時(shí)為 0.12 ? 50 MHz 時(shí)為 0.35 ? 100 MHz 時(shí)為 0.7 ? | 1 MHz 時(shí)為 0.02 ? 10 MHz 時(shí)為 0.1 ? 50 MHz 時(shí)為 0.35 ? | 1 MHz 時(shí)為 0.01 ? 5 MHz 時(shí)為 0.025 ? 15 MHz 時(shí)為 0.1 ? | 10 kHz 時(shí)為 0.1 m ? 100 kHz 時(shí)為 0.6 m ? 1 MHz 時(shí)為 8 m ? 2 MHz 時(shí)為 16 m ? |
三、其他產(chǎn)品
實(shí)際測(cè)試中，除了常規(guī)的500A以內(nèi)的電流探頭，有些測(cè)試還需要10000A以上的柔性電流探頭，用于測(cè)試高頻大電流，而且柔性電流探頭的羅氏線圈有大中小三種選擇：其中小環(huán)可以穿過元器件管腳等狹窄空間，大環(huán)和中環(huán)耐壓值更高，測(cè)試精度高。
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